N-某芯片测试工装

合理设计精准测试

分类：硬件开发

详细内容：

通过单片机控制，实现待测芯片引脚1对N及N对N多种选通方式，通过施加不同的电压、脉冲，获取待测芯片不同的响应时间与结果，以网口通讯传输到上位机获取测试数据，从而评判待测芯片性能。

基础介绍：

客户名称 : 保密

服务内容 : 硬件设计、嵌入式软件设计

创作日期 : 2020-03

图片详情：

通过单片机控制，实现待测芯片引脚1对N及N对N多种选通方式，通过施加不同的电压、脉冲，获取待测芯片不同的响应时间与结果，以网口通讯传输到上位机获取测试数据，从而评判待测芯片性能。

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